ISSN 0236-3933. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. «Приборостроение». 2012
36
Существует множество методов восстановления профиля диэлек-
трической проницаемости, которые чаще всего используются при
обработке сигналов в радиочастотном диапазоне, например при ре-
шении задач георадиолокации (профилирование почв) [8]. В боль-
шинстве методов восстановление профиля диэлектрической прони-
цаемости среды осуществляется в два этапа. На первом этапе из двух
временных сигналов, один из которых (сигнал образца) отражен от
исследуемой среды, а другой (базовый сигнал) — от эталонной зер-
кальной поверхности, восстанавливается импульсный отклик среды.
На втором этапе из импульсного отклика среды восстанавливается
профиль ее диэлектрической проницаемости.
В работах [9—13] рассмотрен способ восстановления профиля
диэлектрической проницаемости среды, основанный на методе вло-
женных интегральных операторов рассеяния. Отметим, что восста-
новление профиля возможно, если исследуемая среда обладает ми-
нимальным поглощением и несущественной дисперсией оптических
характеристик. Ткани зуба удовлетворяют этим требованиям [14].
В данной работе метод вложенных интегральных операторов
обобщается на ТГц-область электромагнитного спектра, в связи с чем
требуется решить ряд задач.
Базовый сигнал и сигнал образца, регистрируемые спектромет-
ром, не определены в областях низких ( 0,1ТГц
) и высоких
( 3, 0 ТГц
) частот. Восстанавливаемый из этих сигналов импульс-
ный отклик среды также не несет полезной информации в этих ча-
стотных областях. Необходимо осуществить фильтрацию импульсно-
го отклика с целью подавления его низкочастотной и высокочастот-
ной шумовых составляющих.
Для восстановления профиля диэлектрической проницаемости
важно, чтобы импульсный отклик среды был определен в области
низких частот ( 0,1ТГц
), включая постоянную составляющую.
Необходимо интерполировать импульсный отклик в этом частотном
диапазоне.
Ниже приведены пути решения данных проблем.
Регистрация сигналов.
Для восстановления профиля диэлектри-
ческой проницаемости необходимо зарегистрировать два сигнала:
сигнал образца, отраженный от исследуемого объекта, и базовый
сигнал, отраженный от эталонной зеркальной поверхности. В каче-
стве эталонной отражающей поверхности используется зеркало с зо-
лотым покрытием, имеющее однородный и высокий спектральный
коэффициент отражения. На рис. 2 приведена схема регистрации
сигналов.
Фокусное расстояние линзы (Л) составляет 50 мм и позволяет по-
лучить близкий к нормальному угол падения излучения на объект,
что необходимо для решаемой обратной задачи. Относительное от-
1,2,3 5,6,7,8,9,10,11,12,13,14,...16