9
Методы получения и результаты исследования свойств графена
ние данного метода микроскопии позволяет четко охарактеризовать гео-
метрию сформированной графеновой структуры.
Свойства структуры таковы: измеренные латеральные размеры
структурированных областей Д = Ш ~9,1 мкм, радиус скругления углов
~0,4 мкм, толщина графенового слоя ~4 нм. Это говорит о том, что
полученный графен является мультиграфеном, количество его слоев
варьируется от 2LG до 3LG. В частности, АСМ-анализ топологии дал
информацию о наличии и распределении «складок» в графеновой плен-
ке, которые возникают в процессе переноса графена.
К этому добавляется детальная оценка количества слоев графена,
степень присутствия химических примесей, дефектов в структуре гра-
фена, полученная по конфокальному изображению распределенных по
поверхности спектров КРС, приведенных на рис. 9. Такое изображение
носит название микрорамановской карты.
Построены две микрорамановские карты по интенсивности
распределения
G
и
G
′ пиков соответственно. На приведенных картах
видны области, где нет выраженных
G
и
G
′, но, согласно АСМ-анализу,
графеновая пленка присутствует в данной области. Это связано с
потерей интенсивности КРС сигнала измерения. Хотя в данных
областях располагается графен, но интенсивность сигнала крайне мала
Рис. 9.
Микрорамановские карты распределения
G
и
G
′
спектральных линий
КРС соответственно
