7
Методы получения и результаты исследования свойств графена
Пики спектральной характеристики графена
Пик FWHM Волновое число Интенсивность Отношение
D
20,29467
1335,22
I
= 168,34542
5,09
G
G
G
26,66735
1580,83
I
= 451,17734
G
'
87,10869
2666,57
I
= 16465,0334
Основываясь на выделенных пиках, можно построить микрорама-
новские карты распределения
G
и
G
′ пиков по поверхности исследуе-
мой области образца, характеризующие распределение количества сло-
ев графена по всей площади сформированной структуры, изготовлен-
ной согласно маршруту, описанному ранее.
Две методики — АСМ и конфокальная микроскопия КРС — со-
гласованно используются в один и тот же момент времени, производя
одновременно анализ одной и той же области образца. Важной особен-
ностью анализа является интегральная оценка получаемой углеродной
структуры, позволяющая увязать топологические характеристики
структуры и функциональные свойства углеродного материала графена.
Измерения проводили на исследовательском измерительном ком-
плексе SmartSPM & Raman компании AIST-NT, схема регистрации сиг-
налов приведена на рис. 5. При проведении исследований использовал-
ся объектив × 100 с числовой апертурой
NA
= 0,7, фокусным расстоя-
Рис. 5.
Схема регистрации в измерительном комплексе
SmartSPM & Raman
