Стр. 7 - А.Ю. Жердев, Е.Ю. Злоказов, В.В. Колючкин, Д.С. Лушников, И.А. Швецов, А.В. Смирнов - Метод контроля качества мастер-матриц защитных голограмм

96

ISSN 0236-3933. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. «Приборостроение». 2012

Применение микроскопической теневой съемки позволяет отоб-

ражать поверхность голограммы с увеличением 50

х

и больше при

размерности изображения в несколько мегапикселов. На рис. 1 пред-

ставлена микрофотография элемента одной из тестовых голограмм. В

этом случае на представление одного периода решетки потребова-

лось порядка 9 пикселов изображения.

Рис. 1. Микрофотография элемента голограммы, снятая микроскопом

с увеличением 50

х

Рис. 2 иллюстрирует результат вычисления фурье-образа объекта,

представленного на рис. 1. На рис. 2 квадратом выделена область

размерностью 128

×

128 пикселов вокруг пика первого порядка, кото-

рая использовалась в качестве характеристики для распознавания го-

лограммы. Для простоты рассмот-

рим область только вокруг пика, со-

ответствующего вертикально ориен-

тированным решеткам. Для увели-

чения

точности

распознавания

необходимо также рассмотреть пики,

соответствующие решеткам с другой

ориентацией штрихов, или рассмот-

реть сразу всю область простран-

ственного спектра вокруг нулевого

порядка, включающую в себя пики

для всех типов решеток. Однако та-

кой подход требует обработки боль-

шего числа данных, поэтому ограничимся пока лишь одной областью

с наибольшей амплитудой пика.

Для подбора тренировочных изображений и расчета фильтра

воспользуемся следующим алгоритмом:

Рис. 2. Амплитуда фурье-

спектра