14
Е.В. Смирнов
обладающая значительным интеллектуальным потенциалом, весомыми
достижениями в наукоемкой космической и ядерной промышленности, не
может находиться на вторых ролях в сфере нанотехнологий — наиболее
важной и перспективной сфере высоких технологий. По мнению лауреата
Нобелевской премии по физике Ж.И. Алферова, возможность прорыва
России в области нанотехнологии связана, прежде всего, с активной под-
держкой фундаментальных исследований и подготовкой высококвалифи-
цированных исследовательских кадров.
ЛИТЕРАТУРА
[1] Миронов В.Л.
Основы сканирующей зондовой микроскопии.
Нижний Нов-
город, 2004, 144 с.
[2] Суслов А.А., Чижик С.А. Сканирующие зондовые микроскопы (обзор).
Ма-
териалы, Технологии, Инструменты
, 1997, т. 2, № 3, с. 78–89.
[3] Бахтизин Р.З. Сканирующая туннельная микроскопия — новый метод изуче-
ния поверхности твердых тел.
Соросовский образовательный журнал
, 2000,
т. 6, № 11, с. 1–7.
[4] Бинниг Г., Ререр Г. Сканирующая туннельная микроскопия — от рождения
к юности.
Успехи физических наук
, 1988, т. 154, вып. 2, с. 261–278.
[5] Смирнов Е.В. Волновые свойства электронов в нанообъектах.
Физическое
образование в вузах
, 2012, т. 18, № 3, с. 80–91.
[6] Сканирующие зондовые микроскопы и инструменты нанотехнологии на их
основе. Руководство пользователя Solver P47. [Электрон. ресурс]. URL:
[7] Фейнман Р.Ф. Внизу полным-полно места: приглашение в новый мир физи-
ки.
Российский Химический Журнал
, 2002, т. XLVI, № 5, с. 4–6.
[8] Crommie M.F., Lutz C.P., Eigler D.M. Confinement of electrons to quantum
corrals on a metal surface.
Science
, 1993, vol. 262, pp. 218–220.
[9] Crommie M.F., Lutz C.P., Eigler D.M., Heller E.J. Waves on a metal surface and
quantum corrals.
Surface Review and Letters
, 1995, vol. 2(1), pp. 127–137.
[10] Serrate D., Ferriani P., Yoshida Y., Hla S.-W., Menzell M., K. von Bergmann1,
Heinze S., Kubetzka A., Wiesendanger R. Imaging and manipulating the spin
direction of individual atoms.
Nature Nanotechnology
, 2010, vol. 5, pp. 350–353.
[11] Binnig G., Quate C.F., Gerber Ch. Atomic Force Microscope.
Phys. Rev. Lett
.,
1986, vol. 56, p. 930–933.
[12]
[13] Martin Y., Wickramasinghe H.K. Magnetic imaging by “force microscopy” with
1000 Å resolution.
Appl. Phys. Lett
., 1987, vol. 50, pp. 1455–1547.
[14] Kaiser U., Schwarz A., Wiesendanger R. Magnetic exchange force microscopy
with atomic resolution.
Nature
, 2007, vol. 446, pp. 522–525.
[15] Шека Е.Ф. Квантовая нанотехнология и квантовая химия.
Российский Хими-
ческий Журнал
, 2002, т. XLVI, № 5, с. 15–21.
[16] Головин Ю.И. Нанотехнологическая революция стартовала!
Природа
, 2004,
№ 1, с. 1–16.
[17] Быков В.А. Нанотехнологический потенциал России.
Наука в России
, 2003,
№ 6(138), с. 8–12.
