11
Сканирующая микроскопия в измерениях нанообъектов
при контактном режиме работы микроскопа и могут заметно усложнить
получение изображения и его интерпретацию.
Атомный силовой микроскоп, в отличие от СТМ, позволяет исследо-
вать как проводящие, так и непроводящие поверхности. Для большинства
режимов АСМ не требуется вакуум, они могут быть реализованы в воз-
духе, в других газообразных и даже в жидких средах. Это очень важно
при изучении биологических макромолекул и живых клеток.
Пространственное разрешение, которое обеспечивает АСМ при из-
учении структуры поверхности, зависит от радиуса закругления острия
зонда, а также от чувствительности системы, регистрирующей откло-
нение кантилевера. Современные АСМ позволяют проводить исследо-
вания поверхности с очень высоким разрешением, максимальная до-
стигнутая разрешающая способность составляет δ
z
≈
пм.
В настоящее время АСМ широко применяются для изучения неорга-
нических и синтетических материалов, биологических объектов, нано-
структур, для неразрушающего контроля, диагностики и модификации
различных поверхностей. Типичный вид структуры поверхности, полу-
ченный с помощью АСМ с атомным разрешением, приведен на рис. 10.
Магнитный сканирующий микроскоп.
В 1987 г. И. Мартин и
К. Викрамасингх создали магнитно-силовой микроскоп (МСМ) для
исследования локальных магнитных свойств поверхности с субмикрон-
ным пространственным разрешением [13]. МСМ представляет собой
усовершенствованный атомно-силовой микроскоп, в качестве зонда
которого используется игла, покрытая тонким слоем ферромагнитного
материала (рис. 11).
Рис. 10.
Атомная структура поверхности
высокоориентированного пиролитического
графита. Размер изображения 17
17 Å [12]
