12
Е.В. Смирнов
Этой магнитной иглой, подведенной к поверхности образца на рас-
стояние ~10 нм, осуществляется сканирование поверхности. Причем
игла, в зависимости от ориентации магнитного поля в доменах, будет
либо притягиваться, либо отталкиваться образцом и за счет этого сме-
щаться в вертикальном направлении. Такие вертикальные смещения
фиксируются традиционными для атомно-силовой микроскопии мето-
дами, они позволяют определить размеры домена и установить направ-
ление намагниченности в нем. На рис. 12 представлена магнитная
структура поверхности жесткого магнитного диска (винчестера) пер-
сонального компьютера, полученная с помощью МСМ. Данный метод
позволяет достичь разрешения ~10 нм и является в настоящее время
одним из наиболее перспективных и востребованных при изучении
доменной структуры магнитных материалов.
Рис. 11.
Общая схема магнитно-силового микроскопа [1]
Рис. 12.
Доменная структура на поверхно-
сти жесткого диска персонального компью-
тера, полученная с помощью МСМ [1]
