71
ISSN 1812-3368. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. «Естественные науки». 2012
Это и есть второй модуль методики, задача которой – непосредствен-
ная экспериментальная оценка индивидуальной надежности каждо-
го См РТД СВЧ в партии и последующая селекция высоконадежных
изделий.
В основу термотестирования заложен принцип искусственного
старения изделия путем воздействия температурного фактора (уско-
ренные испытания). Выбор температурного режима в зависимости от
заданного временного диапазона эксплуатации изделия осуществля-
ется на основе моделирования процессов деградации изделия в диа-
пазоне физически допустимых температур. Испытания при таких
температурах инициируют отказы, связанные с высокой энергией
активации процесса деградации. При этом режимы технологических
испытаний уменьшают ресурс изделия не более чем на 5 %.
Таким образом, реализация разработанной методики обеспечения
заданного уровня надежности смесителя СВЧ за счет его конструк-
торско-технологической оптимизации позволяет обеспечить необхо-
димый потребителю уровень надежности изделия авиационно-косми-
ческого приборостроения.
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ
1. И в а н о в Ю. А., М е ш к о в С. А., С и н я к и н В. Ю., Ф е д о р е н к о И. А.,
Ф е д о р к о в а Н. В., Ф е д о р о в И. Б., Ш а ш у р и н В. Д. Повышение по-
казателей качества радиоэлектронных систем нового поколения за счет приме-
нения резонансно-туннельных нанодиодов // Наноинженерия в приборострое-
нии. – 2011. – № 1. – С. 34–43.
2. И в а н о в Ю. А., М е ш к о в С. А., С и н я к и н В. Ю., Ф е д о р е н к о И. А.,
Ф е д о р к о в а Н. В., Ф е д о р о в И. Б., Ш а ш у р и н В. Д. Повышение
показателей качества радиоэлектронных систем нового поколения за счет при-
менения резонансно-туннельных нанодиодов (продолжение) // Наноинженерия
в приборостроении. – 2011. – № 2. – С. 20–22.
3. В е т р о в а Н. А., Х н ы к и н а С. В., Ш а ш у р и н В. Д. К вопросу о прогно-
зировании качества смесителей радиосигналов на основе РТД на этапе их сбор-
ки // Сборка в машиностроении, приборостроении – 2010. – № 4. – C. 30–37.
4. Оценка показателей качества на этапах проектирования и производства элек-
тронных устройств в условиях применения высоких технологий / Ю. П. Ермо-
лаев [и др.]. – Казань: Новое знание, 2006. – 96 с.
Статья поступила в редакцию 30.05.2012
1,2,3,4,5,6,7,8,9 10