Исследование параметров микрооптических и дифракционных элементов с помощью технологии корреляционной микроскопии Shuttle and Find
Опубликовано: 17.12.2012
Авторы: Гончаров А.С., Ковалев М.С., Соломашенко А.Б., Кузнецов А.С.
Опубликовано в выпуске: #9(9)/2012
DOI: 10.18698/2308-6033-2012-9-361
Раздел: Приборостроение | Рубрика: Оптотехника