Надежность автомобильных электронных компонентов…
9
ЛИТЕРАТУРА
[1] Сысоева С.А. Взгляд на современный рынок автомобильных датчиков.
Основные тенденции и важнейшие рыночные фигуры.
Компоненты и
технологии
, 2006, № 7, с. 18–25.
[2] Иукович Э.В. Современные датчики и тенденции их развития.
Электронные компоненты
, 2003, № 2, с. 23–24.
[3] Адарчин С.А., Косушкин В.Г., Максимова Е.А. Механизмы деградации мик-
роэлектромеханических структур датчиков давления.
Тр. МГТУ им. Н.Э. Бау-
мана № 587 «Методы исследования и проектирования сложных технических
систем».
Москва, Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2004, с. 48–56.
[4] Сергеев В.С., Кузнецов О.А., Захаров Н.П., Летягин В.А.
Напряжения и
деформации в элементах микросхем.
Москва, Радио и связь, 1987, 386 с.
[5] Мужиченко О.Г., Плис Н. Термомеханические напряжения в сборочных
микроузлах.
Электроника: Наука, технология, бизнес
, 2000, № 6, с. 63–64.
[6] Чернышев А.А.
Основы надежности полупроводниковых приборов и
интегральных микросхем.
Москва, Радио и связь, 1988, 356 с.
[7] Зи С.М., ред.
Технология СБИС
. В 2 кн. Москва, Мир, 1986. Кн. 2, 453 с.
[8] Полякова А.Л.
Деформация полупроводников и полупроводниковых при-
боров.
Москва, Энергия, 1979, 168 с.
[9] Концевой Ю.А., Литвинов Ю.М., Фаттахов Э.А.
Пластичность и проч-
ность полупроводниковых материалов и структур.
Москва, Радио и
связь, 1982, 240 с.
[10] Адарчин С.А., Косушкин В.Г., Максимова Е.А. Методика расчета величин
упругих напряжений в микроэлектромеханических структурах датчиков
давления.
Тр. МГТУ им. Н.Э. Баумана № 587 «Методы исследования и
проектирования сложных технических систем».
Москва, 2004, с. 37–47.
[11] Осипьян Ю.А., ред.
Электронные свойства дислокаций в полупроводни-
ках.
Москва, Эдиториал УРСС, 2000, 320 с.
Статья поступила в редакцию 03.10.2014
Ссылку на эту статью просим оформлять следующим образом:
Адарчин С.А., Косушкин В.Г., Адарчина Е.Н. Надежность автомобиль-
ных электронных компонентов в условиях воздействия знакопеременных
нагрузок.
Инженерный журнал: наука и инновации
, 2014, вып. 7.
URL:
Адарчин Сергей Александрович
окончил Калужский филиал МГТУ им. Н.Э. Бау-
мана в 2000 г.
Канд. техн. наук, доцент, заместитель заведующего кафедрой «Ма-
териаловедение» Калужского филиала МГТУ им. Н.Э. Баумана. Автор более
30 публикаций по технологии электроники и надежности электронных приборов.
Область научных интересов: физика, электроника, надежность, микро- и нанотех-
нологии. e-mail:
.
Косушкин Виктор Григорьевич
окончил Ленинградский технологический инсти-
тут им. Ленсовета в 1972 г. Д-р техн. наук, профессор, заведующий кафедрой «Ма-
териаловедение» Калужского филиала МГТУ им. Н.Э. Баумана. Автор более
100 публикаций. Область научных интересов: рост монокристаллов, инновацион-
ная деятельность. e-mail:
Адарчина Евгения Николаевна
окончила КГПУ им. К.Э. Циолковского. Инженер
ОАО «КНИИТМУ» (Калуга). Автор 3 публикаций. Область научных интересов:
электроника, надежность, физика полупроводников. e-mail:
