Применение методов сканирующей зондовой микроскопии в исследовании опаловых наноструктур
Опубликовано: 23.01.2018
Авторы: Панфилова Е.В., Сырицкий А.Б., Доброносова А.А.
Опубликовано в выпуске: #1(73)/2018
DOI: 10.18698/2308-6033-2018-1-1721
Раздел: Металлургия и материаловедение | Рубрика: Нанотехнологии и наноматериалы