Authors: Andrianova N.N., Borisov A.M., Zheltukhin R.V., Kosogorov A.V., Krit B.L., Morozova N.V., Ryzhikov I.A., Semyonova N.L., Suminov I.V., Apelfeld A.V.

Published in issue: #8(20)/2013

DOI: 10.18698/2308-6033-2013-8-905

Category: Nanoengineering