Обеспечение надежности смесителей радиосигналов на резонансно-туннельных нанодиодах
Опубликовано: 27.12.2012
Авторы: Ветрова Н.А.
Опубликовано в выпуске: #11(11)/2012
DOI: 10.18698/2308-6033-2012-11-424
Раздел: Приборостроение | Рубрика: Радиоэлектроника
Решена проблема обеспечения заданного уровня надежности современных смесителей радиосигналов СВЧ-диапазона на резонансно-туннельных диодах. Достижение показателей надежности, необходимых для областей применения с высокой ценой отказа изделия, возможно благодаря проведению конструкторско-технологической оптимизации смесителей радиосигналов.
Литература
[1] Иванов Ю.А., Мешков С.А., Синякин В.Ю., Федоренко И.А., Федоркова Н.В., Федоров И.Б., Шашурин В.Д. Повышение показателей качества радиоэлектронных систем нового поколения за счет применения резонансно-туннельных нанодиодов // Наноинженерия в приборостроении. – 2011. – № 1. – С. 34–43
[2] Иванов Ю.А., Мешков С.А., Синякин В.Ю., Федоренко И.А., Федоркова Н.В., Федоров И.Б., Шашурин В.Д. Повышение показателей качества радиоэлектронных систем нового поколения за счет применения резонансно-туннельных нанодиодов (продолжение) // Наноинженерия в приборостроении. – 2011. – № 2. – С. 20–22
[3] Ветрова Н.А., Хныкина С.В., Шашурин В.Д. К вопросу о прогнозировании качества смесителей радиосигналов на основе РТД на этапе их сборки // Сборка в машиностроении, приборостроении – 2010. – № 4. – C. 30–37
[4] Оценка показателей качества на этапах проектирования и производства электронных устройств в условиях применения высоких технологий / Ю.П. Ермолаев [и др.]. – Казань: Новое знание, 2006. – 96 с.