Оптический стандарт частоты на основе Cr2+:ZnSe-лазера

Статья

Опубликовано: 17.12.2012

Авторы: Губин М.А., Киреев А.Н., Пнев А.Б., Тюриков Д.А., Шелестов Д.А., Шелковников А.С.

Опубликовано в выпуске: #9(9)/2012

DOI: 10.18698/2308-6033-2012-9-357

Раздел: Приборостроение | Рубрика: Оптотехника

Рассмотрены исследования оптических стандартов частоты (ОСЧ) на основе резонансов насыщенного поглощения и дисперсии, выделяемых методами нелинейной лазерной спектроскопии в газовых ячейках низкого давления. Оценены возможности создания ОСЧ на основе Cr2+: ZnSe-лазера и метановой поглощающей ячейки (Cr2+: ZnSe /CH4, L= 2,36 мкм), обладающего долговременной стабильностью 1 * 10-15...1 * 10-16.

Литература
[1] Hall J.L. Nobel lecture: Defining and measuring optical frequencies // Rev. Mod. Phys. – 2006. – Vol.78. – No. 4. – P. 1279–1295; Hansch T.W. Nobel lecture: Passion for precision // Rev. Mod. Phys. – 2006. – Vol. 78. – No. 4. – P. 1297–1309: пер. УФН. T. 176. № 12 (2005). – C. 1354–1380
[2] Крюков П.Г. Фемтосекундные импульсы. – М.: Физматлит, 2008. – С. 205
[3] Stenger J., Schnatz H., Tamm Ch., Telle H.R. Ultra-precise measurement of optical frequency ratios // Phys.Rev.Lett. 88:071601-1-4, 2001
[4] Риле Ф. Стандарты частоты. Принципы и приложения : Пер. с англ. – М.: Физматлит, 2009. – 512 с.
[5] Chou C.W., Hume D. B., Koelemeij J. C. J. et al. Frequency Comparison of Two High-Accuracy Al+ Optical Clocks // Phys. Rev. Lett. – 2010. –Vol. 104. – P. 070802
[6] Lodewyck J., Westergaard P. G., Lorini L. et al. Trapping induced frequency shifts by comparison of two Sr optical lattice clocks at the 10–17 level // Proceedings 2011 Joint Conference of the IEEE International Frequency Control Symposium & European Frequency and Time Forum. May 1–5. 2011. San Francisco. California. USA
[7] http://www.vremya-ch.com
[8] http://www.kvarz.com/general/1-75.html
[9] Перестраивамый двухмодовый Cr2+: ZnSe-лазер со спектральной плотностью частотных шумов 0,03 Гц/Гц1/2 / М.А. Губин, А.Н. Киреев, В.И. Козловский и др. // Квантовая электроника. – 2012. – № 6. – С. 509