Сканирующая микроскопия в измерениях нанообъектов
Авторы: Смирнов Е.В.
Опубликовано в выпуске: #6(18)/2013
DOI: 10.18698/2308-6033-2013-6-809
Раздел: Наноинженерия
Статья посвящена анализу приборов нанотехнологий и тех физических явлений, которые лежат в их основе. Подробно рассмотрены сканирующий туннельный, атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопы, указаны возможности этих приборов в развитии технологий атомного уровня - атомного дизайна, спинтроники и т. д. В основе действия приборов нанотехнологии лежат квантовые явления, что предъявляет более высокие, чем прежде, требования к уровню подготовки инженерного персонала и, соответственно, к уровню овладения студентами технических университетов современной, в первую очередь, квантовой, физикой. Подчеркивается важность фундаментальной подготовки студентов технических вузов для успешного развития нанотехнологий в нашей стране.
Литература
[1] Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. Нижний Новгород, 2004, 144 с.
[2] Суслов А.А., Чижик С.А. Сканирующие зондовые микроскопы (обзор). Материалы, Технологии, Инструменты, 1997, т. 2, № 3, с. 78-89
[3] Бахтизин Р.З. Сканирующая туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел. Соросовский образовательный журнал, 2000, т. 6, № 11, с. 1-7
[4] Бинниг Г., Ререр Г. Сканирующая туннельная микроскопия — от рождения к юности. Успехи физических наук, 1988, т. 154, вып. 2, с. 261-278
[5] Смирнов Е.В. Волновые свойства электронов в нанообъектах. Физическое образование в вузах, 2012, т. 18, № 3, с. 80-91
[6] Сканирующие зондовые микроскопы и инструменты нанотехнологии на их основе. Руководство пользователя Solver P47. [Электрон. ресурс]. URL: http://www.nt-mdt.ru
[7] Фейнман Р.Ф. Внизу полным-полно места: приглашение в новый мир физики. Российский Химический Журнал, 2002, т. XLVI, № 5, с. 4-6
[8] Crommie M.F., Lutz C.P., Eigler D.M. Confinement of electrons to quantum corrals on a metal surface. Science, 1993, vol. 262, pp. 218-220
[9] Crommie M.F., Lutz C.P., Eigler D.M., Heller E.J. Waves on a metal surface and quantum corrals. Surface Review and Letters, 1995, vol. 2(1), pp. 127-137
[10] Serrate D., Ferriani P., Yoshida Y., Hla S.-W., Menzell M., K. von Bergmann1, Heinze S., Kubetzka A., Wiesendanger R. Imaging and manipulating the spin direction of individual atoms. Nature Nanotechnology, 2010, vol. 5, pp. 350-353
[11] Binnig G., Quate C.F., Gerber Ch. Atomic Force Microscope. Phys. Rev. Lett., 1986, vol. 56, p. 930-933
[12] http://www.nanoscopy.org/tutorial/Afm/afm.htm
[13] Martin Y., Wickramasinghe H.K. Magnetic imaging by “force microscopy” with 1000 A resolution. Appl. Phys. Lett., 1987, vol. 50, pp. 1455-1547
[14] Kaiser U., Schwarz A., Wiesendanger R. Magnetic exchange force microscopy with atomic resolution. Nature, 2007, vol. 446, pp. 522-525
[15] Шека Е.Ф. Квантовая нанотехнология и квантовая химия. Российский Химический Журнал, 2002, т. XLVI, № 5, с. 15-21
[16] Головин Ю.И. Нанотехнологическая революция стартовала! Природа, 2004, № 1, с. 1-16
[17] Быков В.А. Нанотехнологический потенциал России. Наука в России, 2003, № 6(138), с. 8-12
[18] Алфимов С.М., Быков В.А., Гребенников Е.П. Желудева С.И., Мальцев П.П., Петрунин В.Ф., Чаплыгин Ю.А. Развитие в России работ в области нанотехнологий. Микросистемная техника, 2004, № 8, с. 2-8
[19] Алферов Ж.И. Нанотехнологии — перспективы развития в России. Наука Москвы и регионов, 2005, № 2, с. 41-47