Расчет дифракции отраженных электронов на монокристалле
Авторы: Безбах И.Ж., Мясников Б.И., Радченко И.Н.
Опубликовано в выпуске: #2(38)/2015
DOI: 10.18698/2308-6033-2015-2-1369
Раздел: Металлургия и материаловедение
В статье приведены результаты применения математического моделирования для одного из основных методов исследования физико-химических свойств поверхности твердого тела -дифракции электронов. Кратко изложены основы теории процесса дифракции микрочастиц, описан алгоритм расчета (в программе MathCAD) и приведено графическое представление полученных результатов. Рассматриваемая работа позволяет прогнозировать процессы дифракции отраженных электронов на поверхности монокристалла при задаваемых параметрах исследуемого процесса. Полученные результаты моделирования дифракционных процессов могут быть использованы в качестве наглядного иллюстративного материала при изучении электронографии.
Литература
[1] Оура К., Лифшиц В.Г., Саранин А.А., Зотов А.В., Катаяма М. Введение в физику поверхности. Москва, Наука, 2006, 490 с.
[2] Троян В.И., Пушкин М.А., Борман В.Д., Тронин В.Н. Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела. Москва, МИФИ, 2008, 260 с.
[3] Бёккер Ю. Спектроскопия. Москва, Техносфера, 2009, 527 с.
[4] Рамбиди Н.Г., ред. Спектроскопия и дифракция электронов при исследовании поверхности твердых тел. Москва, Наука, 1990, 356 с.
[5] Синдо Д., Оикава Т. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия. Москва, Техносфера, 2006, 255 с.
[6] Горелик С.С., Расторгуев Л.Н., Скаков Ю.А. Рентгенографический и электронно-оптический анализ. Москва, Металлургия, 2003, 360 с.
[7] Подсвиров О.А. Новые аспекты динамической дифракции электронов в кристалле. Известия РАН. Сер. Физическая. 2007, т. 71, №10, с. 1471-1480.
[8] Эгертон Р.Ф. Физические принципы электронной микроскопии. Москва, Техносфера, 2010, 304 с.
[9] Lipson S.G., Lipson H., Tannhauser D.S. Optcal Physics, Cambridge, UK, 2009, p. 368.
[10] Пул Ч. Справочное руководство по физике. Москва, Мир, 2008, 462 с.