5
К вопросу о надежности радиоэлектронных средств на наноприборах
[6]). Поэтому полученные при решении задачи (1) перспективные ва-
рианты наноприборов следует проранжировать по уровню групповой
надежности с учетом вероятности выполнения рабочих функций на-
ноприбором, полученной методом экспертных оценок [4, 6]. Для обе-
спечения максимального времени пребывания наноприбора в области
поля допуска с максимальной вероятностью выполнения функций не-
обходимо решить следующую задачу:
max
, , ,
,
,
,
,
, ,
,
,
,
const,
,
,
k
k
P P Y
Y t
Y Y P Y P Y
ôï ô
ô
ôçàä
Ã Ï Ïä Ã Ï Ïä
Ã Ï Ïä
(2)
где
, , ,
,
,
,
,
,
k
P P Y
Y t
ôï ô
Ã Ï Ïä Ã Ï Ïä
— интегральная функция
качества партии наноприборов;
P Y P Y
ô
ôçàä
— заданная эксперта-
ми вероятность выполнения функций наноприбором. Интегральная
функция качества партии наноприборов рассчитывается по формуле
0
,
P P t dt
ôï
ôï
где
P
фп
(
t
) — интегральная функция качества партии наноприборов в
момент времени
t
, рассчитываемая по формуле
1
2
1
2
...
...
,
i
n
i
n
Y
Y
Y
Y
Y
Y
Y
Y
P t P t
P t
P t
P t
P t
P t
P t
P t
ýêâï
ýêâï
ýêâï
ýêâï
ôï
ï
ï
ï
ï
где
i
-й множитель представляет собой интегральную функцию качества
партии наноприборов в момент времени
t
по выходному электрическо-
му параметру
Y
i
, равную отношению вероятности
P
п
Y
i
(
t
) попадания вы-
ходного параметра
Y
i
наноприбора в момент времени
t
в допустимые
пределы ∆
Y
ik
; к эквивалентной вероятности
P
Y
i
эквп
(
t
), полученной в ре-
зультате учета
P
ф
(
Y
i
) [4, 6].
Проведенные теоретические и экспериментальные исследования
позволяют сделать вывод, что за счет оптимизации характеристик ге-
тероструктуры и технологических погрешностей изготовления может
быть достигнут достаточно высокий уровень надежности партии на-
ноэлементов (для СВЧ смесителей радиосигналов на базе резонансно-
туннельных диодов была получена гамма-процентная наработка
T
γ = 0,9999
≈ 10 лет). Вместе с тем надо отметить, что достижение более
высоких значений надежности связано с расширением зоны конструк-
