Симулятор рентгеновского дифрактометра
11
4. По известному положению дифракционных линий необходимо
найти межплоскостные расстояния исследуемого вещества, исполь-
зуя знаменитую формулу Брегга — Вульфа:
2 sin θ λ,
hkl
d
=
где
d
hkl
— межплоскостное расстояние между плоскостью с индекса-
ми Миллера
hkl
и соседней плоскостью;
θ
— угол скольжения рент-
геновских лучей;
λ
— длина волны рентгеновского излучения.
По полученному набору межплоскостных расстояний, используя
различные справочники по кристаллографии или всемирную базу дан-
ных структур кристаллических веществ, следует идентифицировать
исследуемое вещество. На этом этапе рентгенофазового анализа ис-
пользуется база знаний и правила вывода, о которых рассказано выше.
Выводы.
Проанализированы возможные режимы работы ди-
фрактометра и определены формальные критерии для проведения
рентгенофазового анализа исследуемого вещества.
По данным критериям сформулированы правила для базы знаний
экспертной системы.
Выделены наиболее существенные параметры, которые оказыва-
ют влияние на процесс проведения рентгеноструктурного анализа
исследуемого образца. Разработан дружественный интерфейс про-
граммного комплекса, который позволит в режиме реального време-
ни варьировать эти параметры для выбора наиболее подходящей
комбинации физических параметров при проведении эксперимента.
Спроектирован программный комплекс (симулятор), который
позволит проводить виртуальные эксперименты с различными веще-
ствами, выдвигать гипотезы, планировать эксперимент и проверять
правильность гипотез при сравнении полученных результатов с эта-
лонными данными, приведенными в разработанной базе данных.
Проведено аналитическое исследование существующих матема-
тических методов, применяемых при рентгенографическом анализе,
задачей которого является исследование кристалла по его рентгено-
грамме. Выбран подходящий набор методов и описаны алгоритмы
проведения рентгенографического анализа, которые будут в бли-
жайшее время реализованы в виде программных модулей в рамках
построения симулятора с целью автоматизации данных функций.
ЛИТЕРАТУРА
[1] Порай-Кошиц М.А.
Основы структурного анализа химических соединений
.
Москва, Металлургия, 1987, 205 с.
[2] Горелик С.С., Расторгуев Л.Н., Скаков Ю.А.
Рентгенографический и элек-
троннооптический анализ. Приложения
. Москва, Металлургия, 1970, 366 c.
[3] Панова Т.В., Блинов В.И.
Определение параметров элементарной ячейки
кристаллов: Учебно-методические указания к выполнению лабораторной
работы по курсу «Рентгеноструктурный анализ»
. Омск, 2004, 15 с.
