ISSN 0236-3933. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Приборостроение”. 2012
18
Рис. 2. Изображение отпечатка пальца (
а
,
б
)
и четыре слоя светотеней
изображения (
в
–
е
)
Метод параллельных цепей для измерения направлений ли-
ний.
Оценку направлений линий на изображении отпечатка пальца
выполняют по слоям параллельных светотеней
( 3)
0
d
F
+
методом ло-
кального адаптивного параллельного сканирования каналов «тени» и
«
света». Выполняемая процедура для направления
0...3
d D
∈ =
реа-
лизует отображение