высокого разрешения типа Zeiss Supra 50 VP (1,3 нм при ускоряющем
напряжении 20 кВ и рабочем расстоянии 2 мм). Ускоряющее напря-
жение изменяли в диапазоне значений 100. . .30 000 В, а максималь-
ное увеличение составляло 900 000. Элементный состав исследован c
применением системы микроанализа с волнодисперсионным (EDX) и
энергодисперсионным (WDX) спектрометрами.
Спектры фотолюминесценции (ФЛ) регистрировали при комнат-
ной температуре с помощью волоконно-оптических полупроводнико-
вых светодиодов с различными длинами волн (365, 382 и 410 нм)
по схеме, приведенной на рис. 3. При измерении спектров отражения
использовалась галогенная лампа, обеспечивающая непрерывный ис-
точник излучения в видимом диапазоне. Спектры оптического пропус-
кания плоскопараллельных пластин образцов опал–ZrO
2
–
С измеряли
на спектрометре Specord и на полихроматоре FSD8 (см. рис. 3).
Рис. 3. Схемы измерений “на пропускание” (ввод возбуждающего излучения
снизу) и “на отражение” (ввод возбуждающего излучения сверху):
1
—
галогенная лампа или полупроводниковый светодиод;
2
—
световоды;
3
—
система
линз;
4
—
фотонный кристалл;
5
—
полихроматор FSD8
ISSN 1812-3368. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Естественные науки”. 2012
117