М.В. Филиппов, Н.В. Чичварин
8
лительную пластину
2
, где делится на два пучка — прошедший и от-
раженный — примерно одинаковой интенсивности. Пройдя некото-
рые расстояния, эти пучки попадают на зеркала
1
и
3
, отражаются
ими в обратных направлениях и вновь падают на делительную пла-
стину. Пластина снова частично отражает и частично пропускает
свет, в результате чего образуется пучок света, представляющий со-
бой смесь пучков, прошедших через разные плечи интерферометра.
Этот пучок света фиксируется регистратором
5
. Двигая одно из зер-
кал интерферометра в направлении падающего на него светового
пучка, можно изменять оптическую разность хода лучей и наблюдать
изменение интерференционной картины. Интерференционная карти-
на изменяется также за счет возникающего при НСД излучения.
Основной недостаток рассмотренной СДС с анализом прошед-
шего сигнала заключается в отсутствии информации о координате по-
явившейся неоднородности, что не позволяет проводить более тонкий
анализ изменений режимов работы ВОЛС (для снятия ложных сраба-
тываний системы фиксации НСД).
Системы диагностики состояния
с анализом отраженного сиг-
нала
позволяют в наибольшей степени повысить надежность ВОЛС
[12]. Для контроля мощности сигнала обратного рассеяния в ОВ в
настоящее время используется метод импульсного зондирования,
применяемый во всех образцах отечественных и зарубежных рефлек-
тометров.
Суть его состоит в том, что в исследуемое ОВ вводится мощный
короткий импульс и затем на этом же конце регистрируется излуче-
ние, рассеянное в обратном направлении на различных неоднородно-
стях, по интенсивности которого можно судить о потерях в ОВ, рас-
пределенных по его длине на расстоянии до 100…120 км. Начальные
рефлектограммы контролируемой линии фиксируются в памяти ком-
пьютера при разных динамических параметрах зондирующего сигнала
и сравниваются с соответствующими текущими рефлектограммами.
Локальное отклонение рефлектограммы более чем на 0,1 дБ свиде-
тельствует о вероятности попытки НСД к ОВ в данной точке тракта.
Основными недостатками СДС с анализом отраженного сигнала
с помощью метода импульсной рефлектометрии являются следующие:
при высоком разрешении по длине оптического тракта (что име-
ет важное значение для обнаружения локальных неоднородностей при
фиксации НСД) существенно снижается динамический диапазон ре-
флектометров и уменьшается контролируемый участок ВОЛС;
мощные зондирующие импульсы затрудняют проведение кон-
троля оптического тракта во время передачи информации, что
уменьшает возможности СДС либо усложняет и удорожает систему
диагностики;
